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S-4800场发射扫描电子显微镜

S-4800场发射扫描电子显微镜
(2012-06-20 08:00)
设备型号:4800
配备数量(台/件):1
购入价格(万元):340 
 

 

主要性能特点:

主要性能指标:二次电子像分辨率:1.0nm (15KV),2.0nm (1KV),1.4nm(1kv,减速功能);放大倍数:x20~800,000; 加速电压:0.1KV~30KV;束流:1.0pA~2.0nA; X射线能谱仪分辨率/有效面积/可分析元素范围: 129eV,40mm2,Be4Es99

仪器功能:

1.二次电子形貌(SEI):对试样表面及断口进行形貌观察分析;

2.背反射成分像/形貌像(BEI):对试样进行更深一层的形貌观察,并得到原子序数衬度;

3.元素的定性定量分析(EDX):结合X射线能谱仪对试样表面某区域或某点进行成分定性和定量分析;

4.图像分析处理系统(IPS):根据所得图像,对试样进行粒度、孔径大小、气孔分布等进行分析。

主要附件:X射线能谱仪,离子溅射仪

适用范围:

观测样品可以为固体、块状、片状、纤维、状及粉末状,但必须为干燥品。应有一定的化学、物理稳定性,在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形;无磁性、放射性和腐蚀性。一般情况下,样品大小尽量≤5×5×3mm