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关于举办“旱作国家重点实验室大型仪器技术讲座与培训”(十九)的通知

 扫描电子显微镜(SEM)是对各种材料的物质表面及内部进行形貌观察、成分分析和结构测定的有力工具。为了促进师生了解、掌握“HITACHI S4800场发射扫描电镜”基本原理和相关操作,实验室安全与条件保障处和国家重点实验室定于85日在科研楼1309实验室举办专题培训,现有关事项通知如下:

一、时间

 2020年8月5日(星期三)上午9:00-11:00

二、内容

HITACHI S4800场发射扫描电镜”基本原理、样品制备及相关操作

三、主讲人

张国云,旱区作物逆境生物学国家重点实验室,硕士,高级实验师。

四、我校企业微信网络直播平台

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五、HITACHI S4800场发射扫描电镜的参数与功能

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(一)参数

1.二次电子像分辨率:1.0nm (15KV)2.0nm (1KV)1.4nm1kv,减速功能);

    2.放大倍数:x20800,000;

    3.加速电压:0.1KV30KV

    4.束流:1.0pA2.0nA。

 (二)功能

   1.二次电子形貌(SEI):对试样表面及断口进行形貌观察分析;

   2.背反射成分像/形貌像(BEI):对试样进行更深一层的形貌观察,并得到原子序数衬度;

   3.元素的定性半定量分析(EDX):结合X射线能谱仪对试样表面某区域或某点进行成分定性和半定量分析。


实验室安全与条件保障处

旱区作物逆境生物学国家重点实验室

2020年7月30日